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高分辨率納米粒度和Zeta電位分析儀是基于動(dòng)態(tài)光散射（DLS）和激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供高分辨率，和快速的粒度和zeta電位測(cè)試和遠(yuǎn)程原位測(cè)試。
法國(guó)Cordouan 生產(chǎn)的Vasco kin在線(xiàn)納米粒度儀用于復(fù)雜介質(zhì)中納米顆粒的粒度表征，其性能遠(yuǎn)優(yōu)于目前市面上流行的動(dòng)態(tài)光散射法納米粒度儀。經(jīng)過(guò)短短四年的發(fā)展，Cordouan Technologies 構(gòu)建的表征納米和納米材料的創(chuàng)新解決方案已經(jīng)成為 N3 世界（納米顆粒、納米材料、納米技術(shù)）的參考標(biāo)準(zhǔn)，用于粒度測(cè)定
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